所有半導(dǎo)體器件都存在一定的失效比例，在高可靠性要求下，通過老化或者溫循環(huán)等環(huán)境下的在線篩選，是一種非常有些的手段，特別是高速、功耗大的器件，如激光器等，老化測(cè)試是制造工序中非常重要的一個(gè)步驟。

       傳統(tǒng)老化設(shè)備往往僅僅加溫而不加電老化或者集中供電老化，通常存在一些問題：

·老化過程不可見：不能對(duì)每一個(gè)被老化單元進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)和記錄；

·老化過程不可控：不能對(duì)每個(gè)老化單元進(jìn)行獨(dú)立控制調(diào)節(jié)；

·老化過程難追溯：對(duì)于歷史過程，難以對(duì)當(dāng)時(shí)場(chǎng)景比如溫度、插槽、托架、背板、操作員、執(zhí)行的腳本等等進(jìn)行追溯，因此也難以進(jìn)行更高級(jí)別的數(shù)據(jù)分析；

·集成度低：環(huán)境控制、測(cè)試工裝夾具、測(cè)試電路、控制軟件、人機(jī)界面等模塊配合度低，整體性、系統(tǒng)性程度低，導(dǎo)致不好使用，難以維護(hù)。

針對(duì)目前老化測(cè)試現(xiàn)存的問題，固捷Soliware團(tuán)隊(duì)致力于研發(fā)出一套快速、統(tǒng)一、高效的測(cè)試系統(tǒng)，滿足固態(tài)存儲(chǔ)設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)和大規(guī)模應(yīng)用的需求。